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NI推出基于LabVIEW FPGA模块的高速数字测试体验方案

   日期:2014-05-20    

美国国家仪器(National Instruments, NI)推出以NILabVIEW FPGA模块为基础的两款新设备测试体验方案,让工程师和研究人员能够更早运用高速数字及无线通信系统设计技术。系统设计的新方法让工程师可以利用LabVIEW FPGA为每部设备的FPGA撰写客制软件,以制作系统原型、测试新标准或是客制通信协议。利用FPGA技术,工程师可以重复地透过软件重新设定硬件效能,以符合新一代的需求。

到目前为止,这款高速数字测试体验方案提供最多的LabVIEW FPGA兼容芯片。这个产品有4个高速序列I/O线路,速度最高达3.125Gb/s;以及24个通用数字I/O线路,最高速度达400 Mb/s。采用PXI Express的模块提供一个x4接头,最高数据量为1GB/s,适合串流应用。高速数字测试体验方案将现有的高速数字设备功能扩充至200MHz频率率以上,让工程师得以和DVI、HDMI、SATA、IEEE 1394及其它需要高数据量的高速数字通信协议互动。除此之外,还包括新款高速数字设备、PXI Express机箱及控制器、LabVIEW 8.20 Professional Edition以及LabVIEW FPGA模块。

高速数字测试体验方案则是利用一张PCI适配卡,具备两个100MS/s 的14位IF输入频道以及两个200MS/s 的14位IF输出频道。这款设备具备一个LabVIEW FPGA芯片,使它适用于软件定义的无线电及RFID应用。

工程师和研究人员可以在硬件中执行数字升频转频和数字降频转频,以纾解总线的频宽要求,并在执行自订的脉冲成形(pulse shaping)之时,仍然让FPGA能够处理使用者定义的程序。高速数字测试体验方案包括新款的通信设备、LabVIEW、LabVIEW FPGA模块,以及LabVIEW的调变工具组。

 
标签: LabVIEW 数字测试
  
  
  
  
 
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