吉时利仪器推出今日最新升级其广受欢迎的S530参数测试系统，适用于高速生产参数测试，半导体业界最具成本效益的解决方案。这些增强功能演示吉时利的持续承诺的S530用户需求进行了系统的可维护性，测量的信心，并拥有较低的整体成本，以及吉时利的承诺，在一般参数测试。S530诊断和系统验证工具
这个新的图形用户界面驱动的工具，扩展的诊断覆盖所有系统仪表和矩阵的途径，提供了更大的信心，系统的健康。此外，用户还可以运行的系统验证工具，以确保S530是在其发布的系统规格。诊断和系统验证工具生成全面的结果文件，使它更容易在系统健康吉时利现场服务人员或显示器的趋势共享信息。总体而言，新工具提高了用户与S530的经验，同时降低总拥有成本。
扩展测量能力
的升级包括了各种新的测量功能和更大的灵活性，以吉时利测试环境（KTE）。在使用的命令观塘线延线的线性参数测试库（LPTLIB）和参数测试库（PARLIB）建立在吉时利三十年的参数测试代码开发领域经验的优势。S530参数测试系统运行新的KTE V5.5可以解决所有的过程控制监控，过程可靠性监控和器件特性分析所需的IV和CV测量。
S530应用
S530系统用于生产参数测试环境，必须适应广泛的产品组合，或是其他地方广泛应用的灵活性和快速的测试计划的制定是至关重要的优化。除了 ??是通常用于标准的200V的系统配置的CMOS，双极型，微机电系统，以及其它相对低的电压的半导体工艺，吉时利开发了用于难以破裂和渗漏测试，氮化镓，碳化硅，和Si优化的1kV的版本的LDMOS功率器件需求。为了适应这种扩展的应用系统的范围，吉时利还制定了更高的系统柜的设计，以容纳额外的仪器，并简化整个系统的维护。
